发布时间：
2022
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产品综述Ceyear 3674系列矢量网络分析仪是技术创新的巅峰之作，可以轻松应对半导体芯片测试、材料测试、天线测试、高速线缆测试、微波部组件测试等带来的严峻挑战。出色的射频特性、灵活的硬件配置和丰富的软件功能相辅相成，只需一次连接即可完成多种测量任务。创新的人机交互设计可帮助您快速便捷地完成所需的测量设置，超大触摸屏为您带来灵活、高效的操作体验。功能特点脉冲S参数测量内置4路脉冲发生器，用于内部源调制、中频门控制，并从后面板输出。每路脉冲发生器的脉宽和延时独立可设。源调制来源包括后面板输入、内部脉冲发生器和常开、常闭等多种状态，既可利用外部脉冲对矢量网络分析仪的源进行调制，也可以使其处于连续波状态，通过触发同步模式进行测量，为雷达T/R组件、天线收发模块等测试提供有力支撑。混频器/变频器标量测量分析提供完善的混频器/变频器特性设置，支持双阶本振、外部本振源输入；支持线性扫、功率扫、段扫等多种扫描类型；通过简单设置可自动完成复杂混频器RF、双LO、IF之间倍频、分频等特性计算；支持源端口功率、本振端口功率、衰减、功率扫特性设置等。混频器/变频器矢量测量分析提供完整的混频器/变频器幅度响应、绝对相位及绝对时延响应测量能力。校准过程中引入双混频器实现参考通路变频与校准通路的变频。引入的双混频器要求与被测件的变频特性一致，且校准混频器要求变频特性互易。单次连接即可完成混频器/变频器复数特性测量，幅度和相位测量精度高。增益压缩测量增益压缩测量功能能够通过一次连接、一次校准完成有源器件在工作频带内的线性增益、压缩点增益、压缩点输入功率、压缩点输出功率、线性输入匹配等压缩参数测量。增益压缩扫描三维图绘制提供三维视图功能，更好地展示被测件在激励状态下的工作性能，另外还可以展示频率切面和功率切面，可以直观展现被测件在每个频率点和每个功率点的特性。噪声系数测量一次连接，可同时测试S参数、噪声...