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多功能信号发生器SDG7000A是一款集多种信号发生器功能于一体的产品。它可以产生直流到1GHz范围的连续波,在一定场合下取代射频信号源;采用了鼎阳的TrueArb逐点任意波形发生技术,可以在0.01 Sa/s ~ 2.5 GSa/s的范围里任意设置采样率,输出低抖动的任意波;可以产生I/Q矢量信号,最大可设置的带宽超过500 MHz;基于EasyPulse脉冲发生技术,可以产生脉宽最小只有1 ns的低抖动脉冲;可以产生带宽可调的高斯噪声;可以产生伪随机码;另外提供16路数字信号输出强大的任意波生成能力AFG模式 采用传统的DDS技术输出任意波。AWG模式 采用创新的TrueArb 逐点输出技术,可以在0.01 Sa/s ~ 2.5 GSa/s的范围里任意设置采样率,不仅具备传统DDS 技术的所有优点,而且克服了其可能增加抖动和失真的严重缺陷;提供零阶保持、线性插值和sinx/x插值等多种插值方式。分段编辑和播放 提供把最高1024段任意波无缝拼接的能力,每段波形可单独设置重复次数,最高次数65535次。这种模式在切换任意波时直接从前一段的最后一个点跳转到后一段的第一个点,不会产生空闲电平,适用于对波形切换要求很高的场合。矢量信号输出可生成常用的 ASK, FSK, PSK, QAM 等调制类型的IQ 信号。 采用创新的重采样技术, 可以在250 Symb/s ~ 500 MSymb/s 范围内的任意符号率下获得优异的EVM 性能。内建的数字正交调制器可将IQ 信号的载波调制到1 GHz 范围内的任意频点;可使用上位机软件EasyIQ 来生成各种类型的IQ 信号。复杂信号的生成能力16路数字输出 购买相应的数字总线套件,可实现16路LVTTL或LVDS输出,比特率在1 μbps ~ 1 Gbps范围内任意可设置,搭配模拟通道实现混合信号输出。调制 支持AM, F...
产品名称:

EN-1230A 分立器件动态参数测试系统

产品名称: EN-1230A 分立器件动态参数测试系统
上市日期: 2019-05-16

EN-1230A 分立器件动态参数测试系统

产品型号:EN-1230A

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EN-1230A 分立器件动态参数测试系统



产品综述:

EN-1230A型分立器件动态参数测试系统是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。用于二极管、双极性三极管、MOEFET、IGBT的动态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标、系统为独立式单元,封闭式结构,具有升级扩展潜能。选件丰富,通过选件的灵活搭配组合实现相应的测试功能,PC为系统主控计算机,测试结果可输出为EXCEL及文本格式。


参数条件:

基本参数/Basic parameters

功率源/Power source
阻性/感性开关特性单元

Resistance/Inductance 

Switching performance unit

脉宽/Pulse width:50µs~2000µs、0.1µs步径/Steps     时间分辨率:1ns

栅极驱动/Gate drive:±30V,分辨率0.1V        

电阻/Resistance:定制/Commission               

漏极电压/Drain voltage:5V~1500V,分辨率1V        

电流/current:1.0~300A,分辨率/Resolution:1.0A  

电感/Inductance:0.01mH~160mH,分辨率10µH,程控式连续可调

测试参数:开启延迟时间(td(on))、关断延迟时间(td(off))、上升时间(tr)、下降时间(tf)

栅极电荷单元

Gate charge unit

栅极驱动电流/Gate drive current:0~200mA,分辨率1.0mA   

栅极电压/Gate voltage:±30V,分辨率±0.1V

电流/current:1.0~300A,分辨率/Resolution:1.0A                  

漏级电压/Drain voltage:5V~1500V,分辨率1V  

栅极等效电阻范围/Gate equivalent resistance:0.1~50Ω,可调/Adjustable

测试参数:栅电荷(Qg)、栅源电荷(Qgs)、栅漏电荷(Qgd)、平台电压(Vgp)

反向恢复特性单元

Reverse recovery charge

test unit

正向电流(IF):≤300A,分辨率0.1A                        

反向恢复时间(Trr):10ns~2.0µs,分辨率1ns        

反向恢复电流(Irm):≤300A

反向恢复电荷(Qrr):1nC~100µC,分辨率1nC      

反向电压(Vr):5V~1500V,step1V

电感/Inductance:0.01mH~160mH,分辨率10µH,程控式连续可调

短路特性

Short circuit performance

最大电流/Max current:1000A             

栅极驱动/Gate drive:±30V,分辨率 0.1V 

脉冲时间/Pulse width:5us~100us      

漏极电压/Drain voltage:5V~1500V,Step1V

测试参数/Test parameters:短路电流Isc、短路耐量Esc、短路时间Tsc

雪崩测试单元

Avalanche test unit

雪崩耐量/EAS:100J

雪崩击穿电压/Avalanche break down voltage:2500V    

雪崩电流/IAS:1.0~400A;分辨率 1.0A

雪崩感性负载范围/Avalanche inductive load range:0.01mH~160mH;分辨率10μH;

结电容/电阻测试单元

Junction capacitor /resistance test unit

电流/Current:1.0~300A,分辨率/Resolution:1.0A          

电压/Voltage:5V~1500V,分辨率1V  

测试扫频范围/Test sweep range:0.1MHz~5MHz            

输入电容Cies、输出电容Coe、反向转移电容Cres

反偏安全工作区单元

Anti-bias SOA unit

2倍额定电流下,测试关断时电压电流

To test voltage and current of off-state under 2x rated current


EN-1230A 分立器件动态参数测试系统

产品型号:EN-1230A

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