推荐产品 / Products
发布时间: 2017 - 11 - 17
验证多种条件下的定位性能,更快交付高精度的产品  要想开发用于联网汽车、消费电子产品或其它应用的定位芯片组或系统,质量测试必不可少。GSS6700的高精度GNSS/GPS模拟可以提供精确的可重复信号,而且还可以添加最全面的多种额外条件、新信号和干扰效应。它还可以缩短现场测试和调试的时间,或者选择更精确的模块供应商,使产品能够尽快推向市场。特性和优势市场领先的精度和保真度高质量模拟 - 这一切均建立在思博伦30年的经验之上,能够提高系统的精度并缩短现场测试和调试的时间。灵活的配置GSS6700支持GPS/SBAS/QZSS、GLONASS、Galileo L1和北斗2信号的任意组合,可用于测试所有类型的信号。多星群模拟最多支持48个信道,其中每个星群有12个模拟信道。强大的软件可根据不同的测试要求和应用,在3种软件包(SimREPLAY、SimREPLAYplus、SimGEN)中进行选择。协作特性场景、运动信息和其它数据都可以导入并分享给同事。GPS模拟的方法  RF星群模拟器可以为载具和卫星的运动、信号特征、大气和其它效应建立模型,重现GPS接收机在动态平台上经历的环境 ,使接收机能够根据测试场景的各项参数,在模拟的RF信号中实现导航。但模拟器并不是能够完全重现真实世界的神奇魔盒,它不是一种限制,而是一项重大的优势。当RF设计工程师在需要一个受控和可量化的测试信号时,他们肯定不会随机选择一种噪音发生器。同样,GPS接收机测试人员在需要可控且可重复的模拟GPS测试信号时,也不会随便选择一种真实信号重现设备。  根据错误的严重性和RF信号上所实施效应的不同,接收机的性能会呈现出巨大的差异。图1显示的是通过典型模拟器的信号流,并且会在其中添加各种效应,直到产生最后的RF输出,而这种复杂的RF信号将被输出给被测的接收机。这一原理适用于所有的模拟器,其...
发布时间: 2017 - 11 - 16
毫米波(THz)矢量网络分析仪 产品简介:   毫米波(THz)矢量网络分析仪,由矢量网络分析仪主机、扩频控制机、S参数测试模块和波导校准件构成,是毫米波(THz)频段基本测试仪器。主要用于毫米波(THz)定向耦合器、滤波器、功分器等无源部件S参数测试,以及毫米波(THz)混频器和放大器等有源部件测试。毫米波(THz)矢量网络分析仪能够同时获得被测毫米波(THz)网络的幅度信息、相位信息和群时延特性,能够同时满足宽频带、大动态范围和快速实时测试这些互相间不无矛盾的测试要求,特别适合于有源器件S参数测试,是开发毫米波相控阵雷达、通信、电子侦察等设备的必备测试仪器。  主要技术指标:型   号AV3644AAV3645AAV3646AAV3649AV3649A频率范围50GHz ~75GHz75GHz ~110GHz110GHz ~170GHz170GHz ~220GHz220GHz ~325GHz端口输出功率+5dBm+1dBm-6dBm-8dBm-12dBm系统动态范围95dB95dB87dB85dB80dB有效方向性≤-37dB≤-36dB≤-36dB≤-30dB≤-25dB有效负载匹配≤-38dB≤-38dB≤-36dB≤-30dB≤-25dB反射跟踪(±)≤0.12dB≤0.12dB≤0.15dB≤0.50dB≤0.50dB传输跟踪(±)≤0.12dB≤0.12dB≤0.15dB≤0.50dB≤0.50dB基本构成:表1  毫米波(THz)矢量网络分析仪配置仪器 型号仪器名称主要指标数量备注AV3672B矢量网络分析仪10MHz~26.5GHz1台主机可任选一种AV3654A45MHz~20GHz1台AV365445MHz~40GHz1台AV3658745MHz~67GH...
发布时间: 2017 - 11 - 16
毫米波(THz)信号发生器产品简介:   毫米波(THz)信号发生器,由微波合成信号发生器和毫米波(THz)倍频模块两部分构成。倍频模块所需射频信号通过射频电缆从合成信号发生器输入,软件控制通过倍频源模块专用连接电缆实现,倍频源模块使用时的频率、功率等参数由合成信号源控制,直流驱动通过专用的电源适配器提供。倍频源模块依据标准波导段分段,通过更换不同频段的倍频源模块可完成50GHz~325GHz频段信号的发生。  主要技术指标:型  号AV3869AV82406AV82406AAV82406BAV82406CAV82406D频率范围(GHz)92GHz~96GHz50GHz~75GHz75GHz~110GHz110GHz~170GHz170GHz~220GHz220GHz~325GHz输出功率(dBm)26dBm14dBm12dBm3dBm-1dBm-7dBm基本构成: 型号仪器名称主要指标数量备注合成信号源250KHz~20GHz1台具备扩频功能AV3869毫米波(THz)倍频源模块92GHz~96GHz1台测试端口为标准矩形波导接口,不同频段模块可选。AV8240650GHz~75GHz1台AV82406A75GHz~110GHz1台AV82406B110GHz~170GHz1台AV82406C140GHz~220GHz1台AV82406D220GHz~325GHz1台射频连接电缆1根3.5mm/3.5mm-KJ软件1套合成源控制电源适配器1个可提供15V电压
产品名称:

EN-1230A 分立器件动态参数测试系统

产品名称: EN-1230A 分立器件动态参数测试系统
上市日期: 2019-05-16

EN-1230A 分立器件动态参数测试系统

EN-1230A型分立器件动态参数测试系统是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。用于二极管、双极性三极管、MOEFET、IGBT的动态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标、系统为独立式单元,封闭式结构,具有升级扩展潜能。选件丰富,通过选件的灵活搭配组合实现相应的测试功能,PC为系统主控计算机,测试结果可输出为EXCEL及文本格式。



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EN-1230A 分立器件动态参数测试系统



       参数条件:

基本参数/Basic parameters

功率源/Power source
阻性/感性开关特性单元

Resistance/Inductance 

Switching performance unit

脉宽/Pulse width:50µs~2000µs、0.1µs步径/Steps     时间分辨率:1ns

栅极驱动/Gate drive:±30V,分辨率0.1V        

电阻/Resistance:定制/Commission               

漏极电压/Drain voltage:5V~1500V,分辨率1V        

电流/current:1.0~300A,分辨率/Resolution:1.0A  

电感/Inductance:0.01mH~160mH,分辨率10µH,程控式连续可调

测试参数:开启延迟时间(td(on))、关断延迟时间(td(off))、上升时间(tr)、下降时间(tf)

栅极电荷单元

Gate charge unit

栅极驱动电流/Gate drive current:0~200mA,分辨率1.0mA   

栅极电压/Gate voltage:±30V,分辨率±0.1V

电流/current:1.0~300A,分辨率/Resolution:1.0A                  

漏级电压/Drain voltage:5V~1500V,分辨率1V  

栅极等效电阻范围/Gate equivalent resistance:0.1~50Ω,可调/Adjustable

测试参数:栅电荷(Qg)、栅源电荷(Qgs)、栅漏电荷(Qgd)、平台电压(Vgp)

反向恢复特性单元

Reverse recovery charge

test unit

正向电流(IF):≤300A,分辨率0.1A                        

反向恢复时间(Trr):10ns~2.0µs,分辨率1ns        

反向恢复电流(Irm):≤300A

反向恢复电荷(Qrr):1nC~100µC,分辨率1nC      

反向电压(Vr):5V~1500V,step1V

电感/Inductance:0.01mH~160mH,分辨率10µH,程控式连续可调

短路特性

Short circuit performance

最大电流/Max current:1000A             

栅极驱动/Gate drive:±30V,分辨率 0.1V 

脉冲时间/Pulse width:5us~100us      

漏极电压/Drain voltage:5V~1500V,Step1V

测试参数/Test parameters:短路电流Isc、短路耐量Esc、短路时间Tsc

雪崩测试单元

Avalanche test unit

雪崩耐量/EAS:100J

雪崩击穿电压/Avalanche break down voltage:2500V    

雪崩电流/IAS:1.0~400A;分辨率 1.0A

雪崩感性负载范围/Avalanche inductive load range:0.01mH~160mH;分辨率10μH;

结电容/电阻测试单元

Junction capacitor /resistance test unit

电流/Current:1.0~300A,分辨率/Resolution:1.0A          

电压/Voltage:5V~1500V,分辨率1V  

测试扫频范围/Test sweep range:0.1MHz~5MHz            

输入电容Cies、输出电容Coe、反向转移电容Cres

反偏安全工作区单元

Anti-bias SOA unit

2倍额定电流下,测试关断时电压电流

To test voltage and current of off-state under 2x rated current


EN-1230A 分立器件动态参数测试系统

EN-1230A型分立器件动态参数测试系统是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。用于二极管、双极性三极管、MOEFET、IGBT的动态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标、系统为独立式单元,封闭式结构,具有升级扩展潜能。选件丰富,通过选件的灵活搭配组合实现相应的测试功能,PC为系统主控计算机,测试结果可输出为EXCEL及文本格式。



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