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发布时间: 2017 - 11 - 09
产品综述SDS3000系列超级荧光示波器,最大带宽为1GHz,采样率4GSa/s,采用独创的SPO技术,支持高刷新、256级波形辉度等级及色温显示、数字触发和深存储特性;采用Windows操作系统和10.1英寸触摸屏;支持丰富的智能触发、串行协议触发和解码;支持历史采集(History)、顺序采集(Sequence)和波形搜索(WaveScan);具备丰富的测量和数学运算功能;支持16通道的SDS3000系列的4大特点: 1、高指标  l  带宽高达1GHzl  实时采样率高达4G Sa/sl  存储深度达10Mpts/CHl  波形捕获率高达250,000帧/秒 2、技术创新(SPO)   l  高波形捕获率l  实时波形录制以及回放,分析功能l  256级波形辉度和色温显示l  采用windows操作系统,支持键鼠控制数学逻辑分析;集成25MHz DDS信号发生器。是一款性能先进的高端示波器。3、应用广泛l  丰富的触发和参数自动测量功能 l  提供IIC,SPI,RS232,CAN,LIN等总线的触发和解码功能 l  先进的波形运算功能 l  标配有丰富的外围接口 l  提供多种探头及附件 4、外观新颖l  采用10.1英寸触摸屏(分辨率1024*600)l  更窄的深度,减少桌面应用l  重量轻,便携  产品名称SDS3000系列数字示波器SDS3032E    350MHz、2CH、2GSa/s(Max.)、10Mpts/CH、10.1英寸触摸屏SDS3034E   &#...
发布时间: 2017 - 11 - 16
主要特性与技术指标(120 MHz,2 通道)独一无二的 Trueform 技术 无与伦比的能力,可为要求最苛刻的测量生成各种信号 谐波失真低 5 倍的正弦波,可生成更纯净的信号 高达 100 MHz 且抖动为 1 ps 的脉冲,可提供更精确的计时Trueform 任意波形和排序能力可以更精确地显示用户定义的信号仪器特性1 GSa/s 采样率可提供时间分辨率更高的任意波形14 位分辨率和 1 mVpp 至 10 Vpp 幅度可提供更高的幅度精度4 MSa/通道标准配置波形存储器和 64 MSa/通道可选配置存储器,可以存储您的最长波形USB、LAN(LXI-Core)、GPIB 可选接口使仪器轻松快捷地连接到 PC 或网络波形创建和编辑33503A BenchLink Waveform Builder Basic/Pro/ Basic 软件 使用前面板上的内置编辑器生成波形 捕获示波器中的波形,并将波形直接下载到发生器 在 MATLAB、Microsoft Excel 等环境中创建波形并将其下载到波形发生器
发布时间: 2017 - 11 - 16
AV3656D矢量网络分析仪 300kHz ~ 20GHz产品综述AV3656D矢量网络分析仪采用了全新的平台设计,进一步提升稳定性及测试速度,频率范围扩展至20GHz,可对滤波器、放大器、天线、电缆、合路器、隔离器等射频元件的性能进行测量,广泛应用于移动通信、电子对抗、卫星导航等领域的批量生产和现场维修保障测试。该产品具有误差校准功能、时域功能、夹具仿真器功能;具有对数幅度、线性幅度、驻波、相位、群延时、Smith圆图、极坐标等多种显示格式;提供多种校准方式,包括频响、单端口、响应隔离、增强型响应、全四端口,快速SOLT校准及电校准功能;能够多通道多窗口显示;具有USB接口、LAN网口、GPIB接口、VGA接口。可快速、精确地测量被测件S参数的幅度、相位和群延迟特性,具备高效、强大的误差修正能力。主要特点l  具有四端口测试功能,单次连接即可实现四端口网络全部16个S参数测量,并可进行平衡参数测量;l  提供多达64个独立测量通道,快速执行复杂测试方案;l  强大的数据分析能力,如纹波测试、带宽测试、极限测试等功能,方便用户进行合格判定,提高测试效率;l  标配时域分析功能;l  夹具仿真器模拟科研生产的多种测量场合,能快速、实时地获得相应的测量结果;l  具备LAN、GPIB接口,可进行远程控制及系统互联并带有四个USB接口。丰富的分析功能具有极限测试、纹波测试、带宽测试、滤波器自动统计等多种分析功能,使损耗、纹波、抑制一览无余,并方便进行跳频滤波器调试。 用户自定义功能快捷方式软按键可将用户常用按键编辑在一起,简化用户操作步骤,方便使用。多通道多窗口测量最多可进行64个通道的测量,同时可以显示32个窗口,一次连...
产品名称:

4200-SCS型半导体特性分析系统

产品名称: 4200-SCS型半导体特性分析系统
上市日期: 2018-01-18

产品型号:4200-SCS型半导体特性分析系统;

生产厂家:泰克;


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4200-SCS型半导体特性分析系统

   4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求。

  特征

* 直观的、点击式Windows操作环境
* 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至 0.1fA
* 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
* 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
* 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
* 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
* 内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试
* 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
* 硬件由 Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充
* 包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台

* 支持先进的半导体模型参数提取,包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

配件应用

4210-MMPC-C,4210-MMPC-C型高精确三同轴线缆工具箱(用于Cascade Microtech Probers)
4210-MMPC-S,4210-MMPC-C型高性能三同轴电缆套件(配合级联微技术探头使用)
LR8028,LR:8028型成分测试夹具-优化设备测试到200V/1A
4200-SMU,4200-SMU型4200-SCS中等功率源-测量单元(100mA~100fA,200V~1uV,2W)
4210-CVU,4210-CVU型1kHz~10MHz电容电压测量单元
4210-SMU,4210-SMU型4200-SCS高功率源-测量单元(1A~100fA,200V~1uV,20W)
4200-PA,4200-PA型4200-SMU和4210-SMU远程前置放大器选件
4205-PG2型双通道脉冲发生器
4200-SCP2型双通道示波器卡

4200-SCP2HR型200MS双通道示波器卡

仪器应用

* 4225-PMU超快I-V模块
* 4220-PGU脉冲发生器单元(仅电压源)
* 4225-RPM远程放大器/开关
* 4200-SMU中等功率源测量单元
* 用于4200-SCS的4210-SMU高功率源测量单元
* 用于4200-SMU和4210-SMU的4200-PA远程前置放大器选件
* 4210-CVU 1kHz - 10MHz电容电压测量单元
* 4200-SCP2双通道示波器卡

* 4200-SCP2HR 200MS双通道示波器卡

超快I-V应用套件

* 4225-PMU超快I-V模块





产品型号:4200-SCS型半导体特性分析系统;

生产厂家:泰克;


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