推荐产品 / Products

发布时间： 2025 - 05 - 20

产品简介SDG8000A系列函数 / 任意波形发生器，最大4个模拟输出通道，具备16-bit 垂直分辨率，最高12 GSa/s（内插）采样率，输出频率可达5 GHz，最大调制带宽可达2GHz。每通道最大4G样本点存储空间，无需牺牲信号带宽，提供更长的播放时间。配合SigIQPro还可提供蓝牙、WIFI、LTE等通讯信号波形输出。此外，SDG8000A还提供高速串行码型信号输出，支持复杂的多层级序列波输出，双脉冲、多音以及线性调频的功能，满足通讯、工业和科研领域广泛的测试需求。主要特性2/4通道，最高输出频率4 GHz（10 GSa/s采样率）/ 5 GHz（12 GSa/s采样率）16-bit 垂直分辨率可输出最高2 GHz带宽的矢量信号支持蓝牙、OFDM、IOT、LTE、WIFI信号波形输出196 种内建任意波高频高精度，精准还原信号细节SDG8000A系列支持2/4通道配置，具备16-bit垂直分辨率，提供更高的信号保真度。其最高输出频率达5 GHz，最高采样率可达12 GSa/s，确保宽带信号的精确生成。此外，该仪器采用TrueArb技术实现逐点输出，在100 Sa/s ~ 5 GSa/s的范围内保证波形细节的完整性，并大幅降低相位抖动。强大的任意波形生成，灵活适配复杂测试SDG8000A系列每通道最大存储深度达4G样本点，即使在最高采样率下也能支持长达800 ms的波形回放。同时，该系列提供强大的多层级波形序列播放功能，包括：Segment、Sequence、Scenario，仪器内置196种任意波形，涵盖数学、工程、医疗电子、调制等领域，用户可根据需求直接调用或自定义编辑波形文件，从而快速适应各种测试任务。调制与矢量信号生成能力，满足广泛行业需求SDG8000A支持AM、DSB-AM、FM、PM、FSK、ASK、PSK、PWM等模拟及数字调制功能。其矢量信号输出具...

SDS7000A系列高分辨率数字示波器

发布时间： 2024 - 01 - 23

产品综述SDS7000A 系列高分辨率数字示波器，具有 12-bit 垂直分辨率、优秀的本底噪声性能和垂直测量精度，最大带宽 8 GHz，采样率最高 20 GSa/s，提供 4 个模拟通道和 16 个数字通道，存储深度可达1Gpts/通道，能满足更高带宽、更高精度的测量需求。 SDS7000A 采用 SPO 技术，波形捕获率高达 100 万帧/秒，具有256级辉度等级及色温显示；创新的数字触发系统，触发灵敏度高，触发抖动小；支持丰富的智能触发、串行总线触发和解码；支持历史（History）模式、分段采集（Sequence）、模板测试、搜索、导航、波形直方图、波特图、电源分析、眼图和抖动分析、协议一致性分析等高级分析模式；具备丰富的测量和数学运算功能。主要特性•带宽：8 GHz, 6 GHz, 4 GHz, 3 GHz, 2 GHz•存储深度：最高 1Gpts/通道•垂直分辨率：12-bit /10-bit•实时采样率：最高 20 GSa/s•波形捕获率：最高 100 万帧/秒亦高亦精，解析至真SDS7000A系列作为鼎阳科技新旗舰示波器产品，最高带宽提升至8GHz，上升时间仅为57ps，比4GHz带宽的示波器快了一倍以上，能支持测量USB2.0、SATA1、DDR1/2/3等信号，应用场景更加丰富；同时采用了全新15.6英寸高清触摸屏，支持分屏显示功能，从整体到细微处波形清晰可靠，带来全新的测量体验。处理器全面升级SDS7000A作为新旗舰机型实现了处理器的全面升级，由嵌入式ARM处理器升级为X86处理器，使系统响应速度，测量、运算、分析速度都实现了大幅度的提升，给未来软件分析功能的扩展留下了更多的可能性。 12-bit ADC，信号分辨能力更强16倍目前许多移动电子产品设计都朝着低功耗、低电压电子系统的趋势发展，因此对...

4082系列信号/频谱分析仪

发布时间： 2022 - 06 - 01

产品综述 Ceyear 4082系列信号/频谱分析仪是电科思仪全新旗舰级产品。它在显示平均噪声电平、相位噪声、互调抑制、动态范围、幅度精度和测试速度等方面具备极佳的射频性能。具备强大的频谱分析、符合标准的功率测量套件、I/Q分析、瞬态分析、脉冲信号分析、实时频谱分析、模拟调制分析、矢量信号分析等多种测量功能。良好的扩展能力，可通过多种数字和模拟输出接口构建测试系统或进行二次开发。高达2GHz的分析带宽，配合相应的软件分析选件，满足您在移动通信、自动驾驶雷达、卫星通信、物联网、航空航天与国防等领域信号及设备测试时的严苛需求。功能特点卓越的射频与接收性能 Ceyear 4082系列信号/频谱分析仪在显示平均噪声电平、相位噪声、互调抑制、动态范围、幅度精度和测试速度等方面具备极佳的射频性能。4082频率测量范围覆盖2Hz～110GHz，110GHz全频段配置预选器，可对镜像和干扰有效抑制。4082具有极低的显示平均噪声电平，1GHz处显示平均噪声电平为-154dBm/Hz，配置前置放大器后可达-167dBm/Hz，打开噪声抵消功能可达-172 dBm/Hz。110GHz处显示平均噪声电平可达-140dBm/Hz。4082还具有极佳的相位噪声性能，在1GHz载波，1kHz频偏，相位噪声优于-125dBc/Hz@1kHz，-134dBc/Hz@10kHz，可满足用户在雷达、通信信号测量中的极限要求。高达2GHz分析带宽 Ceyear 4082系列信号/频谱分析仪提供10MHz/40MHz/200MHz/400MHz/600M...

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产品名称：

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

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产品名称： 6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

上市日期： 2026-04-16

6433D,6433F,6433H,6433L光波元件分析仪

生产厂家：思仪(Ceyear)

型号：6433D 6433F 6433H 6433L

产品规格
关联方案
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关联案例
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产品综述

6433系列光波元件分析仪包括6433D（10MHz～26.5GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4个型号。6433系列光波元件分析仪是面向高速电光（E/O）器件、光电（O/E）器件、光光（O/O）器件特性测试的解决方案，调制频率范围覆盖10MHz~67GHz，支持不同频率范围、频率间隔、中频带宽的设置，最小频率分辨率达到1Hz。6433系列采用一体集成的设计方案，通过宽带硬件优化设计，构建网络误差模型，利用核心校准算法，实现一键式宽带快速扫频测试，主要用于现代高速光传输系统中核心的电光器件（电光调制器、直接调制激光器、光发射组件）、光电器件（PIN光电探测器、APD光电探测器、光接收组件）、光光器件（光纤滤波器等光无源器件）的带宽、幅频响应、相频响应、群时延等参数测试。

主要特点

校准方便快捷，向导式操作流程

一体化多功能操作界面

大动态测量范围，测量轨迹噪声小

用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用

单端-平衡光电器件模式测量

多功能化工具箱

内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

具备光源输出功率快速自动校准功能

校准方便快捷，向导式操作流程

6433系列光波元件分析仪在校准方面具有清晰的操作流程，主要包括电校准和光路参数校准，通过采用向导式操作提示为用户提供快速高精度校准。

一体化多功能操作界面

6433系列光波元件分析仪具备了电电、电光、光电、光光四种测量模式，四种光电校准模式，功能模式之间可任意切换，满足目前绝大多数通用器件的S参数、阻抗、时域等参数测量需求。

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

大动态测量范围，测量轨迹噪声小

采用高精度和响应平坦的内部核心器件，结合设定不同的中频带宽值，可获得更大的动态测量范围和更小的轨迹噪声，可以获取测量结果的更多细节。

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用

通过用户自定数据或夹具去嵌入数据提升测量精度，尤其在片测试时所需的探针误差移除时，使得测量更加灵活，满足用户不同场合的测量需求。

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

单端-平衡光电器件模式测量

仪器可通过选用不同的配置，满足单端-单端和单端-平衡的光发射或光接收器件或组件对差分增益和共模抑制参数的测试需求，更加贴合现有和未来高速光纤通信领域中多端口参数的测量场合。

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

多功能化工具箱

光发射与光接收结构一体化集成和功能互联，内置大动态范围光功率计，可实时监测输入光功率数值，用于内外光源功率校验；通过高级设置，为M-Z型LiNiO3调制器提供所需的保偏光源。光接收模块绝对频率响应大于-3dB，更好地提取微小信号；双端口光接收测量，提供更宽的测量范围选择。

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

测试不仅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1610nm的外部光源输入，覆盖更宽的通信波长，满足CWDM、DWDM系统核心器件测量需求。

典型应用

电光器件特性分析

电光调制器、直接调制激光器等电光器件的S11参数和S21参数测试，通过多窗口对比分析，用户能更快获取测试对象的各频点反射和传输特性。

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

光电器件频率响应特性测试

实现光电探测器等光电器件的10MHz~67GHz频率响应测试，3dB带宽快速分析及精准频响测试可满足科研、产品线等测试需求。

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

相频响应特性分析

产品具有强大的相频响应特性测量功能，快速分析光电器件相位、群时延等参数。

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

技术指标

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

主机型号

型号	调制频率范围	工作波长	光功率测试范围
6433L	10MHz～67GHz	1310±20nm、1550±20nm	-35dBm~+5dBm（光输入1） -25dBm~+15dBm（光输入2）
6433H	10MHz～50GHz	1310±20nm、1550±20nm	-35dBm~+5dBm（光输入1） -25dBm~+15dBm（光输入2）
6433F	10MHz～43.5GHz	1310±20nm、1550±20nm	-35dBm~+5dBm（光输入1） -25dBm~+15dBm（光输入2）
6433D	10MHz～26.5GHz	1310±20nm、1550±20nm	-35dBm~+5dBm（光输入1） -25dBm~+15dBm（光输入2）

主机配件

编号	名称	描述
6433D	光波元件分析仪	频率范围:10MHz～26.5GHz
6433F	光波元件分析仪	频率范围:10MHz～43.5GHz
6433H	光波元件分析仪	频率范围:10MHz～50GHz
6433L	光波元件分析仪	频率范围:10MHz～67GHz

选件型号

编号	名称	描述
6433L-405	四端口T型偏置器	内部配置4个T型偏置器,用于端口输出直流偏置电压，必选6433L-400+6433L-401+6433L-404，与6433L-403不可同时选配。
6433L-404	四端口可配置测试装置	对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433L-400。
6433L-402	有源互调失真测量	用于有源互调失真信号测量,必选6433L-400+6433L-404+6433L-S20。
6433L-401	四端口程控步进衰减器	配置源通路4个50dB程控步进衰减器，接收机通路4个50dB程控步进衰减器,必选6433L-400+6433L-404。
6433L-400	四端口测量	双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～67GHz。
6433L-205	二端口T型偏置器	内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压，必选6433L-201+6433L-204，与6433L-203不可同时选配。
6433L-204	二端口可配置测试装置	对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、R1、R2 接收机。
6433L-201	二端口程控步进衰减器	配置源通路2个50dB程控步进衰减器，接收机通路2个50dB程控步进衰减器,必选6433L-204。
6433L-023	混频器矢量测量功能	用于混频器矢量参数测量，二端口必选6433L-204+6433L-S20，四端口必选6433L-404+6433L-S20。
6433L-012	多功能光波分析装置	频率范围：10MHz~67GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验。
6433L-011	OE标准件	频率范围:10MHz～67GHz,用于对光电测试模块的数据校验。
6433L-008	脉冲测量	用于脉冲状态下S参数测量。
6433H-405	四端口T型偏置器	内部配置4个T型偏置器,用于端口输出直流偏置电压，必选6433H-400+6433H-401+6433H-404，与6433H-403不可同时选配。
6433H-404	四端口可配置测试装置	对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433H-400。
6433H-402	有源互调失真测量	用于有源互调失真信号测量,必选6433H-400+6433H-404+6433H-S20。
6433H-401	四端口程控步进衰减器
6433H-400	四端口测量	双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～50GHz。
6433H-205	二端口T型偏置器	内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压，必选6433H-201+6433H-204，与6433H-203不可同时选配。
6433H-204	二端口可配置测试装置	对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、R1、R2 接收机。
6433H-201	二端口程控步进衰减器	配置源通路2个60dB程控步进衰减器，接收机通路2个35dB程控步进衰减器,必选6433H-204。
6433H-023	混频器矢量测量功能	用于混频器矢量参数测量，二端口必选6433H-204+6433H-S20，四端口必选6433H-404+6433H-S20。
6433H-012	多功能光波分析装置	频率范围：10MHz~50GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验。
6433H-011	OE标准件	频率范围:10MHz～50GHz,用于对光电测试模块的数据校验。
6433H-008	脉冲测量	用于脉冲状态下S参数测量。
6433H-003	噪声系数测量	用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量，二端口必选6433H-201+6433H-204，四端口必选6433H-401+6433H-404。
6433F-405	四端口T型偏置器	内部配置4个T型偏置器,用于端口输出直流偏置电压，必选6433F-400+6433F-401+6433F-404，与6433D-403不可同时选配。
6433F-404	四端口可配置测试装置	对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433F-400。
6433F-402	有源互调失真测量	用于有源互调失真信号测量,必选6433F-400+6433F-404+6433F-S20。
6433F-401	四端口程控步进衰减器	配置源通路4个60dB程控步进衰减器，接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433F-400+6433F-404。
6433F-400	四端口测量	双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～44GHz。
6433F-205	二端口T型偏置器	内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压，必选6433F-201+6433F-204，与6433F-203不可同时选配。
6433F-204	二端口可配置测试装置	对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、R1、R2 接收机。
6433F-201	二端口程控步进衰减器	配置源通路2个60dB程控步进衰减器，接收机通路2个35dB程控步进衰减器,必选6433F-204。
6433F-023	混频器矢量测量功能	用于混频器矢量参数测量，二端口必选6433F-204+6433F-S20，四端口必选6433F-404+6433F-S20。
6433F-012	多功能光波分析装置	频率范围：10MHz~44GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验。
6433F-011	OE标准件	频率范围:10MHz～44GHz,用于对光电测试模块的数据校验。
6433F-008	脉冲测量	用于脉冲状态下S参数测量。
6433F-003	噪声系数测量	用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量，二端口必选6433F-201+6433F-204，四端口必选6433F-401+6433F-404。
6433D-405	四端口T型偏置器	内部配置4个T型偏置器用于端口输出直流偏置电压，必选6433D-400+6433D-401+6433D-404，与6433D-403不可同时选配。
6433D-404	四端口可配置测试装置	对四端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、C、D、R1、R2、R3、R4 接收机，必选6433D-400。
6433D-402	有源互调失真测量	用于有源互调失真信号测量,必选6433D-400+6433D-404+6433D-S20。
6433D-401	四端口程控步进衰减器	配置源通路4个70dB程控步进衰减器，接收机通路4个35dB程控步进衰减器,必选6433D-400+6433D-404。
6433D-400	四端口测量	双源激励四端口光波元件分析仪配置，频率范围10MHz ～20GHz。
6433D-205	二端口T型偏置器	内部配置2个T型偏置器，用于端口输出直流偏置电压，必选6433D-201+6433D-204，与6433D-203不可同时选配。
6433D-204	二端口可配置测试装置	对二端口机型的测试装置进行扩展，增加面板跳线，可独立使用A、B、R1、R2接收机。
6433D-201	二端口程控步进衰减器	配置源通路2个70dB程控步进衰减器，接收机通路2个35dB程控步进衰减器，必选6433D-204。
6433D-023	混频器矢量测量功能	用于混频器矢量参数测量，二端口必选6433D-204+6433D-S20，四端口必选6433D-404+6433D-S20。
6433D-012	多功能光波分析装置	频率范围：10MHz~20GHz，用于对光波的光电/电光模块测试的数据校验。
6433D-008	脉冲测量	用于脉冲状态下S参数测量。
6433D-003	噪声系数测量	用于S参数、噪声系数和噪声参数的精确测量，二端口必选6433D-201+6433D-204，四端口必选6433D-401+6433D-404。

软件型号

编号	名称	描述
6433L-EWT1	保修期以外延长保修1年	保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项，以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费。
6433L-S30	频谱分析功能	用于提供多通道频谱测试功能。
6433L-S28	相位扫描测量功能	用于相位扫描测量，必选6433L-400。
6433L-S26	增益压缩测量功能	用于放大器等有源器件的增益压缩测量。
6433L-S24	嵌入式本振变频器测量功能	用于内嵌本振变频器测量，二端口必选6433L-204+6433L-S20,四端口必选6433L-404+6433L-S20，必选6433L-S22或6433L-023。
6433L-S22	混频器标量测量功能	用于混频器标量参数测量，必选6433L-S20。
6433L-S20	频偏测量功能	用于频率偏移测量。
6433L-S18	快速连续波扫描功能	使用FIFO 缓冲法，即时读取数据。
6433L-S16	真实差分测量功能	用于真实差模、共模激励平衡参数测量,必选6433L-400+6433L-404+6433L-S28。
6433L-S11	高级时域分析	用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433L-S11赠送6433L-S10。
6433L-S10	高级时域分析	用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433L-S11赠送6433L-S10。
6433L-S07	自动夹具移除功能	用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除
6433L-S05	S参数信号完整性分析功能	用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性，可自动将图形曲线转换成测试报告。
6433H-EWT1	保修期以外延长保修1年	保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项，以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费。
6433H-S30	频谱分析功能	用于提供多通道频谱测试功能。
6433H-S28	相位扫描测量功能	用于相位扫描测量，必选6433H-400。
6433H-S26	增益压缩测量功能	用于放大器等有源器件的增益压缩测量。
6433H-S24	嵌入式本振变频器测量功能	用于内嵌本振变频器测量，二端口必选6433H-204+6433H-S20,四端口必选6433H-404+6433H-S20，必选6433H-S22或6433H-023。
6433H-S22	混频器标量测量功能	用于混频器标量参数测量，必选6433H-S20。
6433H-S20	频偏测量功能	用于频率偏移测量。
6433H-S18	快速连续波扫描功能	使用FIFO 缓冲法，即时读取数据。
6433H-S16	真实差分测量功能	用于真实差模、共模激励平衡参数测量,必选6433H-400+6433H-404+6433H-S28。
6433H-S11	高级时域分析	用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433H-S11赠送6433H-S10。
6433H-S10	时域测量	用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析
6433H-S07	自动夹具移除功能	用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除
6433H-S05	S参数信号完整性分析功能	用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性，可自动将图形曲线转换成测试报告。
6433F-EWT1	保修期以外延长保修1年	保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项，以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费。
6433F-S30	频谱分析功能	用于提供多通道频谱测试功能。
6433F-S28	相位扫描测量功能	用于相位扫描测量，必选6433F-400。
6433F-S26	增益压缩测量功能	用于放大器等有源器件的增益压缩测量。
6433F-S24	嵌入式本振变频器测量功能	用于内嵌本振变频器测量，二端口必选6433F-204+6433F-S20,四端口必选6433F-404+6433F-S20，必选6433F-S22或6433F-023。
6433F-S22	混频器标量测量功能	用于混频器标量参数测量，必选6433F-S20。
6433F-S20	频偏测量功能	用于频率偏移测量。
6433F-S18	快速连续波扫描功能	使用FIFO 缓冲法，即时读取数据。
6433F-S16	真实差分测量功能	用于真实差模、共模激励平衡参数测量,必选6433F-400+6433F-404+6433F-S28。
6433F-S11	高级时域分析功能	用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433F-S11赠送6433F-S10。
6433F-S10	时域测量功能	用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析
6433F-S07	S参数信号完整性分析功能	用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性，可自动将图形曲线转换成测试报告。
6433F-S05	四端口T型偏置器	内部配置4个T型偏置器,用于端口输出直流偏置电压，必选6433F-400+6433F-401+6433F-404，与6433D-403不可同时选配。
6433D-EWT1	保修期以外延长保修1年	保修期以外延长保修1年，2年延保可选2项，以此类推，服务不含校准，仅含单程货品运费。
6433D-S30	频谱分析功能	用于提供多通道频谱测试功能。
6433D-S28	相位扫描测量功能	用于相位扫描测量，必选6433D-400。
6433D-S26	增益压缩测量功能	用于放大器等有源器件的增益压缩测量。
6433D-S24	嵌入式本振变频器测量功能
6433D-S22	混频器标量测量功能	用于混频器标量参数测量，必选6433D-S20。
6433D-S20	频偏测量功能	用于频率偏移测量。
6433D-S18	快速连续波扫描功能	使用FIFO 缓冲法，即时读取数据。
6433D-S16	真实差分测量功能	用于真实差模、共模激励平衡参数测量,必选6433D-400+6433D-404+6433D-S28。
6433D-S11	高级时域分析功能	用于TDR时域阻抗测试、眼图分析等，购买6433D-S11赠送6433D-S10。
6433D-S10	时域测量功能	用于时域测量，可确定器件、夹具或电缆中不连续位置并进行分析。
6433D-S07	自动夹具移除功能	用于单端及平衡器件测量夹具自动测试及移除。
6433D-S05	S参数信号完整性分析功能	用于分析系统的频域、时域TDR 和串扰等信号完整性特性，可自动将图形曲线转换成测试报告。

6433D,6433F,6433H,6433L光波元件分析仪

生产厂家：思仪(Ceyear)

型号：6433D 6433F 6433H 6433L

6433D、6433F、6433H、6433L光波元件分析仪

产品综述

主要特点

校准方便快捷，向导式操作流程

一体化多功能操作界面

大动态测量范围，测量轨迹噪声小

用户数据自动移除，为在片测试提供扩展使用

单端-平衡光电器件模式测量

多功能化工具箱

内、外部光源波长设定，更宽的通信波长测试范围

典型应用

技术指标

主机型号

主机配件

选件型号

软件型号

QQ设置

SKYPE 设置

阿里旺旺设置

电话号码管理

二维码管理