推荐产品 / Products
发布时间: 2024 - 01 - 23
产品综述SDS7000A 系列高分辨率数字示波器,具有 12-bit 垂直分辨率、 优秀的本底噪声性能和垂直测量精度,最大带宽 8 GHz,采样率 最高 20 GSa/s,提供 4 个模拟通道和 16 个数字通道,存储深度可达1Gpts/通道,能满足更高带宽、更高精度的测量需求。 SDS7000A 采用 SPO 技术,波形捕获率高达 100 万帧/秒,具有256级辉度等级及色温显示;创新的数字触发系统,触发灵敏度高,触发抖动小;支持丰富的智能触发、串行总线触发和解码; 支持历史(History)模式、分段采集(Sequence)、模板测试、 搜索、导航、波形直方图、波特图、电源分析、眼图和抖动分析、 协议一致性分析等高级分析模式;具备丰富的测量和数学运算功能。主要特性•带宽:8 GHz, 6 GHz, 4 GHz, 3 GHz, 2 GHz•存储深度: 最高 1Gpts/通道•垂直分辨率:12-bit /10-bit•实时采样率: 最高 20 GSa/s•波形捕获率:最高 100 万帧/秒亦高亦精,解析至真SDS7000A系列作为鼎阳科技新旗舰示波器产品,最高带宽提升至8GHz,上升时间仅为57ps,比4GHz带宽的示波器快了一倍以上,能支持测量USB2.0、SATA1、DDR1/2/3等信号,应用场景更加丰富;同时采用了全新15.6英寸高清触摸屏,支持分屏显示功能,从整体到细微处波形清晰可靠,带来全新的测量体验。处理器全面升级SDS7000A作为新旗舰机型实现了处理器的全面升级,由嵌入式ARM处理器升级为X86处理器,使系统响应速度,测量、运算、分析速度都实现了大幅度的提升,给未来软件分析功能的扩展留下了更多的可能性。 12-bit ADC,信号分辨能力更强16倍目前许多移动电子产品设计都朝着低功耗、低电压电子系统的趋势发展,因此对...
发布时间: 2022 - 06 - 02
产品综述       Ceyear 1466系列信号发生器是一款面向微波毫米波尖端测试的通用测试仪器,频率范围覆盖宽、射频调制带宽大、信号频谱纯度高,具有高准确度和大动态范围的功率输出,以及出色的矢量调制精度和ACPR性能,搭配单机双射频通道和多机级联的设计,可满足您各类测试要求。模拟调制、数字调制、衰落模拟、AWGN等丰富的内置功能让日常测试更加便捷。配合模拟软件实现多场景信号仿真模拟,让支撑无线通信、移动通信和电子战等复杂场景测试得心应手。全新升级人机交互,具有大屏触控图形引导交互、移动端浏览器访问控制、多厂家功率计连接识别、多客户端部署、SCPI命令录制、操控界面自定义和基带波形预览等一系列新功能,打造用户的测试幸福感。Ceyear 1466系列信号发生器是雷达、通信、航空航天和国防等尖端技术领域从元器件级到系统级高标准测试的理想选择。功能特点110GHz同轴频率覆盖,测试更简单、更精确Ceyear 1466系列信号发生器无需外接变频器,同轴输出频率覆盖6kHz~110GHz,保证了高精度的大动态范围幅度控制,具有外扩频方案无法达到的功率准确度和稳定度。同时支持外接Ceyear®8240X系列变频器,可将频率进一步扩展至750GHz。是高效进行毫米波5G通信射频一致性测试、毫米波雷达测试的利器。出色的频谱纯度,让尖端测试更从容Ceyear 1466系列信号发生器支持高纯频谱信号输出,1GHz载波单边带(SSB)相位噪声典型值-145dBc/Hz@10kHz频偏,10GHz载波典型值-132dBc/Hz@10kHz频偏;20GHz宽带底部噪声典型值大动态范围、高准确度功率输出Ceyear 1466系列信号发生器最大输出功率典型值:3GHz为+25dBm,20GHz为+22dBm,40GHz为+22dBm,67GHz为+1...
发布时间: 2022 - 06 - 01
产品综述Ceyear 3674系列矢量网络分析仪是技术创新的巅峰之作,可以轻松应对半导体芯片测试、材料测试、天线测试、高速线缆测试、微波部组件测试等带来的严峻挑战。出色的射频特性、灵活的硬件配置和丰富的软件功能相辅相成,只需一次连接即可完成多种测量任务。创新的人机交互设计可帮助您快速便捷地完成所需的测量设置,超大触摸屏为您带来灵活、高效的操作体验。功能特点脉冲S参数测量内置4路脉冲发生器,用于内部源调制、中频门控制,并从后面板输出。每路脉冲发生器的脉宽和延时独立可设。源调制来源包括后面板输入、内部脉冲发生器和常开、常闭等多种状态,既可利用外部脉冲对矢量网络分析仪的源进行调制,也可以使其处于连续波状态,通过触发同步模式进行测量,为雷达T/R组件、天线收发模块等测试提供有力支撑。混频器/变频器标量测量分析提供完善的混频器/变频器特性设置,支持双阶本振、外部本振源输入;支持线性扫、功率扫、段扫等多种扫描类型;通过简单设置可自动完成复杂混频器RF、双LO、IF之间倍频、分频等特性计算;支持源端口功率、本振端口功率、衰减、功率扫特性设置等。混频器/变频器矢量测量分析提供完整的混频器/变频器幅度响应、绝对相位及绝对时延响应测量能力。校准过程中引入双混频器实现参考通路变频与校准通路的变频。引入的双混频器要求与被测件的变频特性一致,且校准混频器要求变频特性互易。单次连接即可完成混频器/变频器复数特性测量,幅度和相位测量精度高。增益压缩测量增益压缩测量功能能够通过一次连接、一次校准完成有源器件在工作频带内的线性增益、压缩点增益、压缩点输入功率、压缩点输出功率、线性输入匹配等压缩参数测量。增益压缩扫描三维图绘制提供三维视图功能,更好地展示被测件在激励状态下的工作性能,另外还可以展示频率切面和功率切面,可以直观展现被测件在每个频率点和每个功率点的特性。噪声系数测量一次连接,可同时测试S参数、噪声...
产品名称:

4200-SCS型半导体特性分析系统

产品名称: 4200-SCS型半导体特性分析系统
上市日期: 2018-01-18

4200-SCS型半导体特性分析系统

生产厂家:泰克

产品型号:4200-SCS

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4200-SCS型半导体特性分析系统

产品综述


   4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求。


特征


* 直观的、点击式Windows操作环境
* 独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至 0.1fA
* 用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
* 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
* 内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
* 独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
* 内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试
* 支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
* 硬件由 Keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充
* 包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台

* 支持先进的半导体模型参数提取,包括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso

配件应用


4210-MMPC-C,4210-MMPC-C型高精确三同轴线缆工具箱(用于Cascade Microtech Probers)
4210-MMPC-S,4210-MMPC-C型高性能三同轴电缆套件(配合级联微技术探头使用)
LR8028,LR:8028型成分测试夹具-优化设备测试到200V/1A
4200-SMU,4200-SMU型4200-SCS中等功率源-测量单元(100mA~100fA,200V~1uV,2W)
4210-CVU,4210-CVU型1kHz~10MHz电容电压测量单元
4210-SMU,4210-SMU型4200-SCS高功率源-测量单元(1A~100fA,200V~1uV,20W)
4200-PA,4200-PA型4200-SMU和4210-SMU远程前置放大器选件
4205-PG2型双通道脉冲发生器
4200-SCP2型双通道示波器卡

4200-SCP2HR型200MS双通道示波器卡

仪器应用


* 4225-PMU超快I-V模块
* 4220-PGU脉冲发生器单元(仅电压源)
* 4225-RPM远程放大器/开关
* 4200-SMU中等功率源测量单元
* 用于4200-SCS的4210-SMU高功率源测量单元
* 用于4200-SMU和4210-SMU的4200-PA远程前置放大器选件
* 4210-CVU 1kHz - 10MHz电容电压测量单元
* 4200-SCP2双通道示波器卡

* 4200-SCP2HR 200MS双通道示波器卡

超快I-V应用套件


* 4225-PMU超快I-V模块





4200-SCS型半导体特性分析系统

生产厂家:泰克

产品型号:4200-SCS

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