![3674系列矢量网络分析仪]( "3674系列矢量网络分析仪")
产品特点：
产品综述Ceyear 3674系列矢量网络分析仪是技术创新的巅峰之作，可以轻松应对半导体芯片测试、材料测试、天线测试、高速线缆测试、微波部组件测试等带来的严峻挑战。出色的射频特性、灵活的硬件配置和丰富的软件功能相辅相成，只需一次连接即可完成多种测量任务。创新的人机交互设计可帮助您快速便捷地完成所需的测量设置，超大触摸屏为您带来灵活、高效的操作体验。功能特点脉冲S参数测量内置4路脉冲发生器，用于内部源调制、中频门控制，并从后面板输出。每路脉冲发生器的脉宽和延时独立可设。源调制来源包括后面板输入、内部脉冲发生器和常开、常闭等多种状态，既可利用外部脉冲对矢量网络分析仪的源进行调制，也可以使其处于连续波状态，通过触发同步模式进行测量，为雷达T/R组件、天线收发模块等测试提供有力支撑。混频器/变频器标量测量分析提供完善的混频器/变频器特性设置，支持双阶本振、外部本振源输入；支持线性扫、功率扫、段扫等多种扫描类型；通过简单设置可自动完成复杂混频器RF、双LO、IF之间倍频、分频等特性计算；支持源端口功率、本振端口功率、衰减、功率扫特性设置等。混频器/变频器矢量测量分析提供完整的混频器/变频器幅度响应、绝对相位及绝对时延响应测量能力。校准过程中引入双混频器实现参考通路变频与校准通路的变频。引入的双混频器要求与被测件的变频特性一致，且校准混频器要求变频特性互易。单次连接即可完成混频器/变频器复数特性测量，幅度和相位测量精度高。增益压缩测量增益压缩测量功能能够通过一次连接、一次校准完成有源器件在工作频带内的线性增益、压缩点增益、压缩点输入功率、压缩点输出功率、线性输入匹配等压缩参数测量。增益压缩扫描三维图绘制提供三维视图功能，更好地展示被测件在激励状态下的工作性能，另外还可以展示频率切面和功率切面，可以直观展现被测件在每个频率点和每个功率点的特性。噪声系数测量一次连接，可同时测试S参数、噪声系数、噪声参数、增益压缩和变频增益等多种参数。基于冷源噪声系数测试方法，可进行精确的噪声系数和噪声参数测试。通过构建先进的噪声相关矩阵模型，结合矢量网络分析仪精密的S参数校准，适用于较小噪声系数被测件的精确测试。测量动态范围最大可达55dB，适用于较大增益被测件的测试。频谱测量分析矢量网络分析仪的每个端口都可以完成被测件的输入谱和输出谱的测量，可在小的分辨率带宽下快速地定位被测件杂散谱和谐波的状态...
产品特点：
主要特征 SDS3000X HD最高带宽为1GHz，分辨率为12-bit，高分辨率模式下可达16-bit，波形细节清晰可见，能够观测到微小波形变化；采样率为4GSa/s，存储深度为400Mpts/ch，即使长时间捕获波形，依然不会出现波形失真；Sequence模式下能够实现每秒采集89万个波形，能够在短时间内依据大量波形得出可靠的统计结果，帮助用户快速查找罕见的异常信号，SDS3000X HD不仅支持搜索导航、频率计、万用表、历史模式、区域触发等基本功能，还支持电源分析、波特图、模板测试、混合信号分析等重要功能，能广泛应用在第三代半导体，高精度电源等测试领域。12-bit ADC——波形细节清晰可见 SDS3000X HD系列示波器全系采用12-bit高分辨率ADC，量化等级高达4096级，高分辨率模式下（ERES）可将分辨率提升至16-bit，配合垂直&水平放大功能，助力用户更完整清晰地观测到波形的细节。比如在LLC半桥式变换电路分析时，需要通过波形观察上管和下管的驱动信号之间存在的死区时间，12-bit示波器还原后的波形细节远比8-bit示波器清晰。ENOB——真实有效的ADC位数 当高速ADC进行数据采集时，由于噪声和失真的影响，实际ADC的信噪失真比达不到其标称位数应达到的理想性能。一般情况下，示波器带宽越高，其内部噪声就越高。因为高频噪声会进入高带宽示波器内。由于ADC仅为示波器系统的一部分，不能独立使用，因此整个示波器系统的ENOB指标会更有意义。SDS3000X HD高达8.3～8.6-bit，时间误差、频率杂散都比较小，同时宽带噪声也比较低，能够有效保证测量的精准度。丰富的触发功能 SDS3000X HD系列示波器提供丰富的触发类型，含边沿、间隔、超时、视频、串行总线、区域触发等，其中，区域触发不同于传统触发，它可应用于参数特征尚不明确的偶发信号，仅需使用鼠标或者触摸创建并定义区域即可完成信号的捕捉。总线触发支持 I2C、SPI、CAN、CAN FD、FlexRay、I2S、 MIL-STD-1553B、SENT等多种总线，提供嵌入式、汽车...
产品特点：
产品综述SDS7000A 系列高分辨率数字示波器，具有 12-bit 垂直分辨率、 优秀的本底噪声性能和垂直测量精度，最大带宽 8 GHz，采样率 最高 20 GSa/s，提供 4 个模拟通道和 16 个数字通道，存储深度可达1Gpts/通道，能满足更高带宽、更高精度的测量需求。 SDS7000A 采用 SPO 技术，波形捕获率高达 100 万帧/秒，具有256级辉度等级及色温显示；创新的数字触发系统，触发灵敏度高，触发抖动小；支持丰富的智能触发、串行总线触发和解码； 支持历史（History）模式、分段采集（Sequence）、模板测试、 搜索、导航、波形直方图、波特图、电源分析、眼图和抖动分析、 协议一致性分析等高级分析模式；具备丰富的测量和数学运算功能。主要特性•带宽：8 GHz, 6 GHz, 4 GHz, 3 GHz, 2 GHz•存储深度： 最高 1Gpts/通道•垂直分辨率：12-bit /10-bit•实时采样率： 最高 20 GSa/s•波形捕获率：最高 100 万帧/秒亦高亦精，解析至真SDS7000A系列作为鼎阳科技新旗舰示波器产品，最高带宽提升至8GHz，上升时间仅为57ps，比4GHz带宽的示波器快了一倍以上，能支持测量USB2.0、SATA1、DDR1/2/3等信号，应用场景更加丰富；同时采用了全新15.6英寸高清触摸屏，支持分屏显示功能，从整体到细微处波形清晰可靠，带来全新的测量体验。处理器全面升级SDS7000A作为新旗舰机型实现了处理器的全面升级，由嵌入式ARM处理器升级为X86处理器，使系统响应速度，测量、运算、分析速度都实现了大幅度的提升，给未来软件分析功能的扩展留下了更多的可能性。 12-bit ADC，信号分辨能力更强16倍目前许多移动电子产品设计都朝着低功耗、低电压电子系统的趋势发展，因此对数字示波器等测试测量仪器的精度也提出了更高的要求。12-bit高分辨率示波器的量化误差比普通的8-bit示波器小16倍，能助力工程师更完整清晰地观测到波形的细节，并进行更精准的波形测量。20 GSa/s高采样率与1 Gpts长存储深度根据奈奎斯特采样定律，为了保证采样后的数字信号能完整复原真实信号的信息，一般实际应用中需要保证采样率为信号最高频率的2.56～4倍。SDS7000A系列示波器的采样率...
产品特点：
产品综述 Ceyear 1466系列信号发生器是一款面向微波毫米波尖端测试的通用测试仪器，频率范围覆盖宽、射频调制带宽大、信号频谱纯度高，具有高准确度和大动态范围的功率输出，以及出色的矢量调制精度和ACPR性能，搭配单机双射频通道和多机级联的设计，可满足您各类测试要求。模拟调制、数字调制、衰落模拟、AWGN等丰富的内置功能让日常测试更加便捷。配合模拟软件实现多场景信号仿真模拟，让支撑无线通信、移动通信和电子战等复杂场景测试得心应手。全新升级人机交互，具有大屏触控图形引导交互、移动端浏览器访问控制、多厂家功率计连接识别、多客户端部署、SCPI命令录制、操控界面自定义和基带波形预览等一系列新功能，打造用户的测试幸福感。Ceyear 1466系列信号发生器是雷达、通信、航空航天和国防等尖端技术领域从元器件级到系统级高标准测试的理想选择。功能特点110GHz同轴频率覆盖，测试更简单、更精确Ceyear 1466系列信号发生器无需外接变频器，同轴输出频率覆盖6kHz～110GHz，保证了高精度的大动态范围幅度控制，具有外扩频方案无法达到的功率准确度和稳定度。同时支持外接Ceyear®8240X系列变频器，可将频率进一步扩展至750GHz。是高效进行毫米波5G通信射频一致性测试、毫米波雷达测试的利器。出色的频谱纯度，让尖端测试更从容Ceyear 1466系列信号发生器支持高纯频谱信号输出，1GHz载波单边带（SSB）相位噪声典型值-145dBc/Hz@10kHz频偏，10GHz载波典型值-132dBc/Hz@10kHz频偏；20GHz宽带底部噪声典型值大动态范围、高准确度功率输出Ceyear 1466系列信号发生器最大输出功率典型值：3GHz为+25dBm，20GHz为+22dBm，40GHz为+22dBm，67GHz为+10dBm，110GHz为+3dBm。最小输出功率-150dBm（可设置），动态范围超过170dB。具有业内一流的功率准确度指标，典型值2GHz射频调制带宽，轻松面对宽带测试挑战Ceyear 1466系列信号发生器能够提供最大2GHz 射频调制带宽，带内频响典型值优异的矢量调制精度，胜任通信设备标定与测试Ceyear 1466系列信号发生器具备优异的矢量调制精度， 5GNR EVM＜0.8%（28G...